大学物理光的等厚干涉问题
为了精确测量硅片（n0=3.4）上的氧化膜的厚度,常用化学的方法把薄膜的一部分腐蚀掉,使之成为尖劈形,称为“台阶”.已知氧化膜的折射率为n=1.5.用波长为λ=589.3nm的钠黄光垂直照射到“台阶”上,在台阶处看到5条亮纹.试求氧化膜的厚度.