能否用光电效应法测金属逸出功,为什么
人气:182 ℃ 时间:2019-10-19 17:48:13
解答
可以的,金属逸出功一般有两种实验方法,一种是热激发法,一种就是光激发法.采用光电效应测量时必须是可以产生外光电效应的金属(即光照射后可产生光电子从金属表面脱离),根据爱因斯坦光电方程hf=1/2*m*V^2+A来求解.其中h为普朗克常数,f为光频率,1/2*m*V^2为光电子动能,A为逸出功.实验中需要解决的是f的测量(使用不同波长的滤光片即可)和光电子动能的测量(需测量光电子的截止电压).然后就可以计算出逸出功.
推荐
猜你喜欢
- 少先队员开展植树造林,他们一共要栽若干棵树.如果每人栽5棵树,则还差45棵树;如果每人栽4棵树,正好种
- 生命的姿势,一只飞在深秋的蜜蜂阅读答案
- 如果a比b=四分之三比三分之二,那么,a与b最简的整数比是();a比b多()%
- 小萍做语文作业用了二分之一小时,她做这两项作业一共用了多少小时?
- 比例尺=_:_,比例尺实际上是一个_.
- It.must.Scare.to.you英文是什么意思
- 两圆柱形容器底面积之比为1:2,分别倒入密度比为1:2的液体,若倒入液体的深度之比为2:1,则两容器底部受到的液体的压强比为( ) A.1:2 B.1:1 C.1:4 D.4:1
- 如图,点E在正方形ABCD的对角线BD上,且BE=AB,EF⊥BD,EF与CD相交于点F求证DE=EF=FC