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物理
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在测量半导体材料电阻率时,为什么要求待测面平整、粗糙
人气:441 ℃ 时间:2019-08-22 15:31:06
解答
在采用四探针法测量电阻率时,金属探针不能与半导体形成整流接触,故打毛表面以破坏肖特基势垒的作用.
只有表面平整,才能较好地满足四探针技术的要求,以使测量准确.
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