你所用的干涉应该是劈尖干涉,而照射光应该是垂直劈尖入射的平行干涉光,劈尖楞在左侧.此时发生的是等厚干涉,也就是说,厚度相等的地方形成同一条条纹.那么,被检查的平面下凹的地方的薄膜的厚度和没有下凹的地方薄膜厚度相等的点相比较,必然有下凹的地方在靠近劈尖楞的位置,也就是左侧.